關(guān)于各種膜厚計(jì)的原理和特點(diǎn)

更新時(shí)間：2024-02-17

瀏覽次數(shù)：735

膜厚計(jì)是測量涂漆表面厚度的測量儀器。

彩繪物體以各種形態(tài)存在于我們身邊，如家電、汽車、路標(biāo)、護(hù)欄等。

油漆涂得太多不僅浪費(fèi)油漆，而且還會(huì)造成裂縫。

另一方面，如果涂料用量太少，則會(huì)因基體暴露而造成變色、光澤變差，甚至生銹。

因此，在涂裝過程中控制膜厚非常重要，并且使用膜厚計(jì)來測量膜厚。

光譜干涉膜厚測量裝置

用寬波長帶的光照射測量對(duì)象，根據(jù)從正面和背面反射的光的干涉強(qiáng)度光譜來測量膜厚。

膜厚可以通過測定結(jié)果除以測定對(duì)象物的折射率來求出。

在多層膜的情況下，可以通過干涉在每個(gè)膜之間的界面處反射的光來測量每個(gè)膜的厚度。

電磁膜厚計(jì)

當(dāng)探頭與測量對(duì)象接觸時(shí)，磁通密度根據(jù)磁鐵“拉力"的強(qiáng)度而變化，根據(jù)流過測量對(duì)象的電流量的變化來測量膜厚。電磁鐵。可以測量在時(shí)間金屬基材上涂覆或襯里的涂膜(非磁性金屬層、無機(jī)層、有機(jī)層)的膜厚度。

- 如果涂層很薄，探頭和基材之間的距離很近，因此流過探頭磁鐵的電流會(huì)很大。

- 如果漆膜較厚，探頭與基材之間的距離會(huì)變長，流過電磁鐵的電流量的變化會(huì)變小。

利用探針處磁鐵的拉力與到基材的距離成正比的特性來計(jì)算薄膜厚度。

如果漆膜已經(jīng)具有磁性，則無法進(jìn)行準(zhǔn)確的膜厚測量。

底座：鐵、鋼、鐵素體不銹鋼等磁性材料

涂膜：電鍍、油漆、樹脂膜等非磁性材料。

渦電流式膜厚計(jì)

通過觸摸包含線圈的探針并測量通電時(shí)產(chǎn)生的渦流來測量薄膜厚度。

- 如果薄膜較薄，探頭與基材之間的距離較近，因此在金屬表面產(chǎn)生的渦流較強(qiáng)。

- 如果漆膜較熱，則探頭與基材之間的距離會(huì)較遠(yuǎn)，因此數(shù)值會(huì)較弱。

利用金屬表面產(chǎn)生的渦流值與到基材的距離成正比的性質(zhì)來計(jì)算膜厚。

渦流膜厚計(jì)分為通過渦流的振幅測量膜厚的“接觸式"和通過渦流的相位差測量膜厚的“非接觸式"。

使用渦流膜厚計(jì)的條件是涂膜是不導(dǎo)電的絕緣膜。

底座：非磁性金屬，如鋁或銅

涂膜：塑料、樹脂、橡膠等絕緣膜。

赤外線膜厚計(jì)

基于通過用紅外線照射測量目標(biāo)并分析透射光(或反射光)而獲得的光譜來測量膜厚度。

當(dāng)漆膜受到紅外線照射時(shí)，根據(jù)漆膜的材料和厚度，在特定波長下會(huì)發(fā)生紅外線吸收現(xiàn)象。

根據(jù)漆膜所用材料的“吸收率與膜厚的關(guān)系"，可以計(jì)算出被測物體的膜厚。

在需要實(shí)時(shí)測量結(jié)果的現(xiàn)場，通常采用3波長法來減少與膜厚測量不直接相關(guān)的因素的影響（例如光源的波動(dòng)、測量目標(biāo)顏色的渾濁、 ETC。）。

超音波膜厚計(jì)

將探頭與待測物體接觸，根據(jù)傳感器發(fā)射的超聲波從基材反射并返回所需的時(shí)間來測量薄膜厚度。

使用超聲波膜厚計(jì)測定的膜厚如下求出。

D=1/2×C×t

D：膜厚（m），C：測量目標(biāo)的聲速（m/s），t：超聲波來回傳播到測量目標(biāo)的時(shí)間（s）

針對(duì)每種材料確定測量目標(biāo)的聲速近似值。然而，即使是相同的材質(zhì)，不同的類型也會(huì)造成聲速的差異。因此，在使用超聲波膜厚計(jì)時(shí)，需要根據(jù)實(shí)際的測量對(duì)象進(jìn)行調(diào)整（校準(zhǔn)）。