即使相同的涂層測(cè)厚儀，不同的人或?qū)Σ煌N類(lèi)、狀態(tài)基材上的相同涂層測(cè)量出來(lái)的數(shù)據(jù)也可能會(huì)存在較大差別，這是因?yàn)闇y(cè)量人員因素、測(cè)量漆膜的基體材質(zhì)、厚度、表面狀況以及測(cè)量位置等造成的。因此，在使用測(cè)厚儀檢測(cè)涂層厚度時(shí)，不僅操作方法要正確，還需要針對(duì)具體基材進(jìn)行調(diào)整。

使用前應(yīng)仔細(xì)閱讀儀器使用說(shuō)明書(shū)

不同廠家、不同品牌的儀器在結(jié)構(gòu)、按鍵、校準(zhǔn)等方面各不相同，因此使用前需要先仔細(xì)閱讀儀器的使用說(shuō)明書(shū)，避免誤操作造成測(cè)量數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤。

注意金屬基體材質(zhì)

不同金屬基體材料的磁性、導(dǎo)電率是不相同的，這都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果造成影響[9]。采用磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。由于基體金屬的成分及熱處理方法不同，導(dǎo)致其電導(dǎo)率不同，因此應(yīng)使用與被檢測(cè)試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

注意檢測(cè)試件形狀

在實(shí)際生產(chǎn)中，工件的材料厚度、形狀、表面粗糙度等存在差異，這些差異會(huì)對(duì)實(shí)際測(cè)量結(jié)果造成影響。每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響，如果試件材料厚度小于儀器所要求的臨界厚度，檢測(cè)結(jié)果就會(huì)與實(shí)際厚度有差別。一些儀器對(duì)試件表面形狀的陡變十分敏感，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量的數(shù)值會(huì)不可靠，實(shí)際測(cè)量時(shí)應(yīng)選擇遠(yuǎn)離邊緣和內(nèi)轉(zhuǎn)角的部位。試件表面不僅存在形狀的陡變，還可能存在不同的曲率，一些儀器的測(cè)量結(jié)果總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此，即使在選擇儀器時(shí)考慮了最小曲率半徑，測(cè)量時(shí)仍應(yīng)盡可能選擇在平面部位進(jìn)行測(cè)量。

以上也是在選擇測(cè)厚儀器時(shí)需要考慮最小曲率半徑、最小測(cè)量面積、最小基體厚度的原因。

另外，實(shí)際生產(chǎn)中，不同工件的表面粗糙度也不盡相同。粗糙程度越大，對(duì)一些儀器的測(cè)量結(jié)果影響越大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。這一點(diǎn)，很多廠家的儀器使用說(shuō)明書(shū)里都沒(méi)有指出。我們分別用國(guó)產(chǎn)和進(jìn)口測(cè)厚儀在平面上校準(zhǔn)后測(cè)量拋丸后的表面，讀數(shù)在10 ~ 30 μm 不等。也就是說(shuō)，如果按此方法，測(cè)量出來(lái)的數(shù)據(jù)比漆膜的實(shí)際厚度會(huì)大10 ~ 30 μm，即漆膜實(shí)際厚度達(dá)不到設(shè)計(jì)要求。因此，如果基體金屬粗糙，還需要在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置來(lái)校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去涂層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。當(dāng)然，當(dāng)漆膜厚度為基材表面粗糙度的5 ～ 6 倍時(shí)，可以將粗糙度忽略。總之，儀器的校準(zhǔn)需要依據(jù)現(xiàn)場(chǎng)被涂工件表面粗糙度來(lái)進(jìn)行。

檢測(cè)環(huán)境

周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作，使用時(shí)應(yīng)盡量遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境。

操作

一些儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與漆膜表面緊密接觸的附著物質(zhì)比較敏感，因此，需要清除附著物質(zhì)，進(jìn)而保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。測(cè)頭放置到試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量也有影響，在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。另外，通常儀器的每次讀數(shù)并不相同，因此需要在每一測(cè)量面積內(nèi)多讀取幾個(gè)數(shù)。漆膜厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。